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X射线无损检测膜厚仪

产品名称:X射线无损检测膜厚仪

产品价格:0

产品型号:THICK800A

产品产地:中国大陆

访问次数:41

简介内容:天瑞仪器生产的X射线无损检测膜厚仪THICK800A采用X射线的原理对待测样品进行激发,释放的特征X射线进行分析,通过对比分析,得到厚度检测数据,该方法具有快速,准确,无损的特点。

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    X射线无损检测膜厚仪

    X射线无损检测膜厚仪
    天瑞仪器生产的X射线无损检测膜厚仪THICK800A采用X射线的原理对待测样品进行激发,释放的特征X射线进行分析,通过对比分析,得到厚度检测数据,该方法具有快速,准确,无损的特点。

    天瑞X射线无损检测膜厚仪应用优势:
    样品处理方法简单或无前处理
    可快速对样品做定性分析
    对样品可做半定量或准定量分析
    谱线峰背比高,分析灵敏度高
    不破坏试样,无损分析
    试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
    设备可靠、维修、维护简单
    便捷、低廉的售后服务保证

    仪器介绍
    天瑞仪器X射线无损检测膜厚仪Think800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求,特设计的款产品;
    采用上照式结构,以满足不规则表面样品的测试要求;
    采用美新型的Si-pin探测器,高分辨率探头使分析结果更加精准;
    X射线无损检测膜厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度,以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光定位光斑,以确保测试点与光斑对齐;
    高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
    内置φ0.1mm的小孔准直器,可以满足微小测试点的镀层测试;
    多重防辐射泄露设计,具有良好的射线屏蔽作用; 
    内置高精度移动平台,通过测试软件可视化操作:鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
    X射线无损检测膜厚仪采用网口传输数据,数据传输稳定且快。

    性能指标: 
    X射线无损检测膜厚仪元素分析范围从硫(S)到铀(U);
    次可同时分析多24个元素,5层镀层;
    分析检出限可达2 PPm,薄可测试0.005um;
    分析含量般为2 PPm到99.9%;   
    镀层厚度般为在50um以内(每种材料有所不同);
    任意多个可选择的分析和识别模型;
    相互独立的基体效应校正模型;
    多变量非线性回收程序;
    多次测量重复性可达0.1%;
    长期工作稳定性可达0.1%;
    温度适应范围为15℃至30℃;
    电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源)。
     
    仪器配置                                                                            
    Si-pin电制冷半导体探测器;                        
    X光管;                            
    高低压电源;
    开放式样品腔;
    双激光定位装置;
    高度传感器;
    保护传感器;
    铅玻璃屏蔽罩;
    信号检测电子电路;
    精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

    应用范围
    X射线无损检测膜厚仪应用领域耐磨镀层 如镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金
    减摩镀层 如镀Sn、In、Sn-In合金
    热加工镀层 如防渗碳镀Cu、防渗氮镀Sn
    反光镀层 如镀Ag、光亮Ni等
    防反光镀层 如镀黑Ni、镀黑Cr等
    导电镀层 如镀Au、Ag、Sn、Cu等
    磁镀层 如镀Ni-Fe合金、Ni-Co合金等
    抗氧化镀层 如镀Cr、镀Pt-Rh合金
    耐酸镀层 如镀Zn、Sn-Pb合金等 

    原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司

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