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x光镀层测厚仪
产品简介
x光镀层测厚仪Thick800A是款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率低为139eV，处于际水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合际规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的专用测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达际水平。
产品特点
x光镀层测厚仪专门针对镀层厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计，具如下特点：
1.微小焦斑X射线测量系统
2.高精度移动平台及定位装置
3.大面积高分辨率探测器
4.采用FPTHICK软件实现计算，实现对单镀层，双镀层，三镀层和合金镀层的测试
5.防碰撞保护装置保护测试机构和样品
业内难点
光斑需足够小，以实现小测试点的测量
测试点定位不准
能测试不同厚度的样品
难以兼顾高分辨率和高记数率
无法同时分析合金镀层含量和厚度
x光镀层测厚仪使用的激光打孔技术，制作出Φ0.1mm以内微小孔准直器。实现了小Φ0.25mm的光斑，满足客户的测试需求。
高精度二维样品移动平台，可定位测试点，重复定位精度达5μm以内
用户可通过鼠标点击视频范围内的任意点，进行定点测试
采用高度定位激光，自动调节测试机构的升降运动，测试不同厚度的样品具有相同的测试距离，从而了结果的正确性。
采用大面积（25mm^2）Si-pin 半导体探测器，即实现高分辨率，亦足够高的记数率，从而实现测量。
采用FPTHICK软件：通过复杂的数学运算，计算出每中元素之间的相互影响系数，对测试结果进行修正，能提高测试的度。
该软件不但能计算出合金镀层的厚度，可同时分析出该合金镀层中各种元素的含量，实现厚度含量步到位。
测量标准
1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用优势
1 快速：般测量个样品只需要30S～300S，样品可不处理或进行简单处理；
2 无损：物理测量，不改变样品性质；
3 ：对样品可以分析；
4 直观：直观的分析谱图，元素分布幕了然，定性分析速度快；
5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。
1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线
荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
参数规格
1 分析元素范围：S-U
2 x光镀层测厚仪 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
性能特点
1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5 定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7 高分辨率探头使分析结果更加；
8 良好的射线屏蔽作用；
安装要求：
1 x光镀层测厚仪环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
质量
1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；
2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；
3. 保修条款
3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；
3.2. 免费保修期内，维修相关费用免；
4. 技术服务的响应期限：提供的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
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